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JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡是日本電子株式會社（JEOL Ltd.）于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。通過醉佳光闌角控制透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現(xiàn)小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現(xiàn)100nm以內的高空間分辨率分析。
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